Избранное
ЭБ Нефть
и Газ
Главная
Оглавление
Поиск +
Еще книги ...
Энциклопедия
Помощь
Для просмотра
необходимо:


Книга: Главная » Сборник Н.Т. Научно-техническая конференция ФГУП РНИИ КП 26-29 мая 2003г
 
djvu / html
 

220 8. Элементная база и надежность аппаратуры
Контроль изделий электронной техники по параметрам вольт-амперной характеристики
Горин В. Н.
Вольт-амперные характеристики (ВАХ) полупроводниковых структур содержат ряд информативных параметров, характеризующих надежность изделий электронной техники (ИЭТ).
По виду и параметрам ВАХ можно определить наличие скрытых дефектов ИЭТ, таких как наличие утечек и паразитных каналов, плохой контакт внутреннего вывода с кристаллом, наличие микротрещин в кристалле и др.
В докладе рассмотрено применение метода контроля ВАХ на примере ИС 286ЕПЗ, часто применяемой в аппаратуре в схемах преобразователей, стабилизаторов напряжения и тока.
В течение многих лет ИС 286ЕПЗ в НЦ СЭО РНИИ КП проходила входной контроль (ВК) в объеме, определяемом инструкцией ИЮ0.005.045И, а также диагностический неразрушающий контроль (ДНК) в соответствии с инструкцией ИЮ0.005.068И.
Начиная с 2000 г., на ряде предприятий были отмечены случаи отказов ИС 286ЕПЗ в импульсных источниках питания, работающих на индуктивную нагрузку. При анализе отказов была выявлена причина их возникновения - наличие в отказавших схемах паразитного элемента на выходе схемы (между коллектором и эмиттером), имеющего нелинейную вольт-амперную характеристику.
В дальнейшем выяснилось, что причиной появления паразитного элемента на выходе ИС явилась попытка предприятия-изготовителя модифицировать схему с целью устранения стабилитрона в выходной цепи.
Для выявления ИС, имеющих паразитные включения, была разработана и внедрена временная инструкция на основе использования характериографа (Л2-56 или TR-4805), позволяющего задавать необходимую амплитуду входных воздействий и контролировать форму и величину выходного сигнала.
Отбракованные по этой инструкции элементы были направлены изготовителю ИС, производственные дефекты были признаны и аномальные микросхемы заменены.
В настоящее время в матрицу проверки ИС 286ЕПЗ введены операции новой инструкции с целью выявления паразитных каналов в выходных цепях схемы.

 

1 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120 130 140 150 160 170 180 190 200 210 220 221 222 223 224 225 226 227 228 229 230 240


Автоматизация производства в нефтяной и химической промышленности. Справочники, статьи